期刊簡介

《微電子可靠性》致力于傳播微電子設備、電路和系統可靠性的最新研究成果和相關信息，涵蓋材料、工藝和制造、設計、測試和操作等各個方面。該期刊涵蓋以下主題：測量、理解和分析；評估和預測；建模和仿真；方法和緩解。將可靠性與微電子工程其他重要領域（如設計、制造、集成、測試和現場操作）相結合的論文也將受到歡迎，并且特別鼓勵報告該領域和特定應用領域案例研究的實踐論文。

大多數被接受的論文將以研究論文的形式發表，描述重大進展和已完成的工作。回顧普遍感興趣的重要發展主題的論文可能會被接受作為評論論文發表。更初步的緊急通訊和關于當前感興趣的已完成實踐工作的簡短報告可能會被考慮作為研究筆記發表。所有投稿均需經過該領域頂尖專家的同行評審。

微電子可靠性創刊于1964年，由Elsevier Ltd出版社出版。其研究的主題領域包括但不限于工程技術-工程：電子與電氣，是一本在工程技術領域具有重要影響力的國際期刊。該期刊涵蓋了工程技術的多個子領域，旨在全面理解和解決工程技術問題。

根據最新的數據，微電子可靠性的影響因子為1.6，CiteScore為3.3，h-index為80，SJR為0.394，SNIP為0.801，中科院分區為4區，這些指標均顯示了該期刊在工程技術領域的優秀地位。

該刊以English作為出版語言。對于English非母語的作者，期刊建議使用語言編輯服務，以確保文稿的語法和拼寫錯誤得到糾正，并符合科學English的標準。如果想實現快速順利的投稿發表，建議您聯系本站的客服團隊，將為您提供專業的選刊建議，并在整個投稿過程中提供細致的指導。